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双丝像质计

双丝像质计被应用在许多X射线应用中,特别是用于评价图像不清晰度(胶片和数字影像)和数字图像的基本空间分辨率,根据EN13068 (X射线透视) EN14784 ISO 13671 (基于成像板的CRISO 17636-2 (焊缝的数字放射学-平板探测器)或用ASTM E 2597(数字探测器阵列特性)。新的ISO标准正在准备中,描述使用双丝像质计测定X射线管的焦斑尺寸的可能性。

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